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高低溫快速溫變試驗箱
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HAST高加速應力篩選試驗箱

HAST高加速應力篩選試驗箱

  • 所屬分類:HAST高加速應力篩選試驗箱
  • 瀏覽次數:
  • 發布日期:2020-10-09
  • 產品概述
  • 性能特點
  • 技術參數
  • 安全與配置

應用場景:


HAST加速老化壽命試驗箱廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。


測試目的:


HAST加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或係統的壽命試驗時間。主要適用於調查分析何時出現電子元器件,和機械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數呈什麽樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。與PCT不同的是,PCT主要用於快速暴露產品的缺陷和薄弱環節,測試其製品的耐厭性,氣密性。



性能特點:


HAST試驗箱的主要功能是:溫度,壓力,濕度隨用戶試驗條件可以隨意設定,不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響,即為非飽和控製。也就是說:試驗溫度,壓力,濕度隨用戶試驗條件確定可以在HAST試驗箱的測試條件允許下隨意設定。


HAST與PCT的對比


PCT試驗箱的主要功能是:壓力是對應溫度飽和壓力顯示,濕度也是對應該溫度條件下的飽和蒸汽壓力。也就是說:試驗溫度隨用戶試驗條件確定的同時也就確定了飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度。其溫度對應的飽和蒸汽壓力存在對應關係。

HAST試驗箱和PCT濕度完全飽和控製不同,HAST非飽和狀態下的會涉及一個濕度的準確性的問題,丝瓜黄色视频下载所使用的濕度檢測裝置是根據試驗箱內真實環境通過幹濕球對比出來而顯示和加以控製的,不是通過換算關係顯示出來並控製,因此其準確性才有保障。


HAST與PCT的共同點


PCT與HAST主要作用是用來測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置於嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。兩者廣泛應用於EVA膠,TPT膜,光伏玻璃,PCB線路板,多層線路板,IC半導體,LCD光器件,電子組件,塑封器件/材料,磁鐵/磁性材料等密封性能的檢測。主要測試其製品的耐壓性,氣密性,失重試驗,飽和穩態濕熱試驗,加速老化篩選試驗,光伏組件可靠性和壽命高加速試驗。 常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因汙染造成短路等。


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